案例分享：不良現象為樣品功能測試不良。
經電性測試發現其中有兩個PIN存在Short現象，實驗室分別對樣品進行了X-ray,開封和SEM觀察發現樣品內部晶元表面存在多處EOS燒傷痕跡。
圖1：X-ray檢測沒有發現打線斷開，短路等異常
圖2：將樣品開封后發現晶元表面有多處EOS燒傷痕跡，以上圖箭頭所指放大圖為例.
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